Félvezető elemzés
-
DB-FIB
A szolgáltatás bemutatása Jelenleg a DB-FIB-t (kétsugaras fókuszú ionsugár) széles körben alkalmazzák a kutatásban és a termékellenőrzésben olyan területeken, mint például: kerámia anyagok, polimerek, fém anyagok, biológiai vizsgálatok, félvezetők, geológia, hibrid anyagok, félvezető anyagok, szerves polimer anyagok, organikus polimer anyagok, szerves kis molekulák. Szolgáltatási háttér A félvezető elektronika és az integrált áramkörök gyors fejlődésével... -
Pusztító fizikai elemzés
A minőségi konzisztenciáka gyártási folyamatrólbeelektronikus alkatrészekvannakelőfeltételehogy az elektronikus alkatrészek megfeleljenek a használatuknak és a kapcsolódó előírásoknak. A hamisított és felújított alkatrészek nagy száma elárasztja az alkatrészellátási piacot, a szemléletetpolcelemek hitelességének megállapítására egy komoly probléma, amely az összetevők felhasználóit sújtja.
-
Hibaelemzés
A vállalkozás K+F ciklusának lerövidülésével és a gyártási lépték növekedésével a vállalat termékmenedzsmentje és termék-versenyképessége többszörös nyomással szembesül a hazai és a külföldi piacok részéről. A termék teljes életciklusa alatt a termék minősége garantált, az alacsony meghibásodási arány vagy akár a nulla meghibásodás a vállalkozás fontos versenyképességévé válik, de kihívást jelent a vállalati minőségellenőrzés számára is.
